スライス厚(NEMA9)/ その他

試14-14、10-34、10-48、7-27、6-32、5-38

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①撮像条件などに関する要件

2対のウェッジか傾斜板を使用するのが一般的

・TR
:信号発生物質のT1値の3倍以上

・TE
:臨床上一般的なシングルエコー

最低3スライス以上のマルチスライス
 設定スライス厚の中心間距離が、予想される半値幅の少なくとも2倍以上

・空間分解能
:ピクセルサイズをdとすると、d ≦ FWHM/(5×tanα) を満たすこと

・スピンエコー法を用いる

・その他の撮像条件は臨床上一般的な値

②ウェッジ法による測定方法

ファントムセットアップ時の傾き誤差補正のために2対のウェッジを使用する
 角度αの傾斜を持つ2つのくさびを互いに対向させて配置し、このくさびに対して平行にスライス面を設定

・得られたスライスからedge response functionを作成
 これを微分することでスライスプロファイルを得る
 得られたスライスプロファイルの幅は、設定するスライス厚をFWHMとすると、FWHM/tanαで表すことができる

・対向する2つのくさびに対し、スライスが回転するとそれぞれから得られるスライス厚が異なる
 → 回転角補正が必要となる
 → それぞれのくさびから計測されたFWHMをそれぞれL1、L2(L1>L2)とおくと、回転角θは以下のように表される
 θ = (arcsin×(L1-L2)sin2α ÷(L1+L2)) ÷ 2
 これを用いると、真のスライス厚はL1×tan(α-θ)またはL2×(tanα+θ)で表される

・基本的にウェッジの角度をαとした場合、スライス厚はスライスプロファイルの微分の半値幅×tan(α)

③スラブ法による測定方法

・ウェッジ法と異なり、直接スライスプロファイルが求まるため、微分の必要がない
・スライスプロファイルを求める手法を除き、計算方法については全く同じ

④各測定法の問題点

・ウェッジ法は、edge response functionを微分する必要があるため、SNRが測定精度に強く影響する

・スラブ法は、くさびの対向距離が小さくなるほど、得られる信号強度が低くなるため、薄いスライス厚の測定が困難になる

・スライス厚に影響を与える因子
:「傾斜磁場の不均一
 「RF パルスの不均一
 「静磁場の不均一

その他

○画像評価
試12-7、11-44、8-24
・CNR はファントム温度に依存する

○IEC62464-1:2007の空間分解能評価
試12-8
・ファントムの角度は10~15°が望ましい
・エッジに利用した濃度曲線を微分してPSFを作成する
・周期的に並べたファントム画像のROI内の平均値とSD値から算出する

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