フリップ角
試8-1
参考書籍：完全解説P63
フリップ角θ ＝ γ・B1・t
γ：磁気回転比
B1：RFパルス強度
γ・B1：RFパルスによる歳差運動の周波数
t：RFパルスの照射時間
FOV
試16-13、7-14、7-30、9-9、5-9
参考PDF
FOV＝BW/(γ×G)
BW：受信バンド幅[Hz]
γ：磁気回転比[Hz/T]
G：傾斜磁場強度[T/m]
スライス厚
試18-8、16-11、14-11、1-2、2-2
参考書籍：完全解説P492～
スライス厚Δz＝BW/(γ×Gz )
BW：送信バンド幅[Hz]
γ：磁気回転比[Hz/T]
Gz：スライス選択傾斜磁場強度[T/m]
送信バンド幅BWの励起RFパルスを照射すると、
設定したBWの範囲内のプロトンが励起され共鳴する
傾斜磁場(空間磁場勾配)
試19-46、16-11、16-46、14-8、14-9、14-11、14-32、14-33、13-33、12-33、12-34、9-22、7-23
参考書籍：完全解説P157,165,169,P474～489～
・磁場勾配により位相差を生じる
・位相エンコードステップの最大勾配磁場の強度は
位相差が±πを超えないように設定する
・傾斜磁場は磁気モーメントの位相分散(dephasing)を伴う
・読み取り傾斜磁場にてdephasing lobeが無い場合はハーフエコーとなる
Slew rate
・傾斜磁場コイルが「いかに迅速に強い磁場勾配を作ることができるか」を示す指標
・最大傾斜磁場までどのくらいの時間で変化させるかを示す
・単位：[T/m/s]
・Slew rate＝最大勾配磁場/立ち上がり時間
静磁場内の磁場勾配
・静磁場における空間の傾斜磁場(空間磁場勾配)
・単位：[gauss/cm]または[T/m]
・「静磁場の強さ」×「静磁場における空間磁場勾配」で表される
・測定位置によって異なる
・水平静磁場の磁束密度の分布の最大偏向角点
・ガントリZ軸方向の中心部より開口部の方が強い
・ガントリX-Y方向の中心部より辺縁部の方が強い
傾斜磁場変動dB/dt
・単位：[T/s]
・dB/dt＝Slew rate×磁場中心からの距離
・磁場中心部より辺縁部の方が大きい
・傾斜磁場変動[dB/dt]が大きくなると心臓に刺激を与える可能性がある
心臓への刺激は，期外収縮や不整脈を誘発する
・dB/dtの大きさに比例して人体に電圧を生じ末梢神経刺激(単位：V/m)を受ける
・dB/dtを低くする撮像条件設定
磁場勾配を小さくすればよいため、
スライス厚を大きくする
FOVを大きくする
受信バンド幅を減少させる
○傾斜磁場強度マップ
・原点からどの程度離れた地点にどの程度の傾斜磁場がかかっているのかを示す
・読み取れること
+－20cmの範囲で直線性が保たれている
20cm離れたところで4mT→20mT/m
○傾斜磁場電源傾斜磁場の動き方
・立ち上がり時間と最大の傾斜磁場強度を示す図
・読み取れること
20mT/mの立ち上がりに1msec、落とし込むのにも1msecかかる
受信バンド幅(Band Width)
試17-16、16-13、15-14、13-44、11-4、9-12、7-19、6-17
参考書籍：完全解説P172、P529
参考HP① 参考HP②
概要
・受信バンド幅BW＝1/サンプリング間隔ΔTS
・サンプリング時間ΔTS =サンプリング間隔ΔTS×周波数マトリクス数N
・サンプリング時間をヘルツ[Hz]で表したもの
・シンク波の周期Tに反比例する
・サンプリング時間
→ エコー信号を収集している時間
→ リードアウトをしている時間
受信バンド幅を広げた場合
・サンプリング時間が短くなる＝SNRが低下する
・短いTEを設定できる
・傾斜磁場システムの負荷が高まる
・磁化率アーチファクトが軽減する
・ケミカルシフトアーチファクトが軽減する
・モーションアーチファクトが軽減する
・撮像可能なスライス枚数が増加する
・ブラーリングが軽減する
撮像時間
試15-15、12-12、3-17
参考書籍：集中講習P93
概要
・撮像時間＝(TR×Ny×撮像加算回数÷ETL)×NZ
TR：繰り返し時間
ETL：エコーの数(Echo train length)(SE法のときのみ)
Ny：位相エンコード数(位相方向のマトリクス数)
NZ：Z軸のマトリクス数(3次元の場合)
撮像加算回数：信号雑音比を上げるため同信号を取り出す回数
・GRE法ではTRの短縮、高速SE法ではETLに応じて撮像時間を短縮する
・TR，ETLを変更すると、画像コントラストが変わってしまう
・位相エンコード数を減らすと空間分解能を劣化もしくは折り返しの原因となってしまう
・空間分解能を維持して位相エンコード数を減らす方法
「パラレルイメージング」
「half scan」
「長方形FOV」
各パルスシーケンスの撮像時間比較(1スライスあたり)
撮像可能枚数
試18-13、14-18、15-16
○撮像可能枚数の算出
・マルチスライスSE法にて、TR、TE、サンプリング時間Tsが与えられている場合
撮像可能枚数＝TR/(TE+Ts/2)
・FSE法にて、TR、ETL、Echo Spaceが与えられている場合
撮像可能枚数＝TR/(ETL×Echo Space)
SNR
試19-14、18-23、14-16、12-6、12-19、11-42、11-49、10-21、10-22、9-2、9-9、8-2、7-26、7-8、6-30、6-18、5-7、5-20、2-12、2-19、1-12、1-19
参考書籍：撮像技術P189、完全解説P205
k：コイル効率
B0：静磁場強度
matrix(R)：周波数エンコード方向のマトリクス数
matrix(P)：位相エンコード方向のマトリクス数
臨床画像から直接測定するSNR
SNR＝SI/SDair
SI：測定箇所の信号強度
SDair：空気領域の標準偏差
公式以外のSNRが高くなる因子
「観測対象の温度が下がる」
「1chあたりの受信コイルの半径が短くなる」
「TRが長い」
「T1値の短い試料」
「TEが短い」
「T2値の長い試料」
SENSEのSNR
SNRSENSE = SNR_full/(g√R)
SNRSENSE：SENSEを用いたときのSNR
SNRfull：SENSEを用いない場合のSNR
g：geometry factor(展開をどれだけ正確にもどすことができるのかの指標)
R：reduction factor(別称：SENSE factor、Parallel imaging factor、Acceleration factor)
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